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探針臺(tái)是一種成熟的工具，用于測(cè)試硅晶片、裸片和開放式微芯片上的電路和設(shè)備。它允許用戶將電子、光學(xué)或射頻探針放置在設(shè)備上，然后測(cè)試該設(shè)備對(duì)外部刺激(電子、光學(xué)或射頻)的響應(yīng)。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單，例如連續(xù)性或隔離檢查，也可以更復(fù)雜，涉及復(fù)雜微電路的全功能測(cè)試。它的應(yīng)用行業(yè)有許多，常見的包括半導(dǎo)體、光電以及集成電路等行業(yè)，半導(dǎo)體企業(yè)不僅有效促進(jìn)了經(jīng)濟(jì)發(fā)展。主要用于半導(dǎo)體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的電、磁學(xué)特性測(cè)試，能夠提供磁場(chǎng)或變溫環(huán)境，并進(jìn)行高精度的直...

一、探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有：手動(dòng)，半自動(dòng)，全自動(dòng)二、從功能上來(lái)區(qū)分有：溫控探針臺(tái)，真空探針臺(tái)(超低溫探針臺(tái))，RF探針臺(tái)，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái)三、經(jīng)濟(jì)手動(dòng)型：(1)根據(jù)客戶需求定制(2)chuck尺寸：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選)(3)X-Y移動(dòng)行程：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選)(4)chuckZ軸方向升降10mm(選項(xiàng))方便探針與樣品快速分離(5)顯微鏡：金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)...

芯片分選機(jī)基于最新高新科技設(shè)計(jì)，可以提供高產(chǎn)出、高精準(zhǔn)度的一站式IC測(cè)試解決方案，它適合Tray入料，卷帶（Reel）出料的進(jìn)出料形式，可針對(duì)各種封裝形式的IC進(jìn)行外觀檢測(cè)。該設(shè)備已經(jīng)取得了很大的技術(shù)進(jìn)步，未來(lái)將在設(shè)備的每小時(shí)產(chǎn)能、適用的芯片封裝種類、換測(cè)時(shí)間以及系統(tǒng)的穩(wěn)定性等方面取得重要的成果。如今隨著經(jīng)濟(jì)的不斷發(fā)展，用工成本越來(lái)越高，尤其在產(chǎn)品分級(jí)方面，高昂的人工費(fèi)用讓很多工廠企業(yè)越來(lái)越吃不消。自動(dòng)化分級(jí)必將成為未來(lái)的大趨勢(shì)。反觀目前的重量分選機(jī)市場(chǎng)，魚龍混雜，不少有分級(jí)...

高低溫探針臺(tái)主要用于材料電學(xué)表征和測(cè)量的微型桌面型電學(xué)測(cè)量臺(tái)，是專為晶片、器件和材料（薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導(dǎo)材料、鐵電材料等）提供真空和高低溫測(cè)試條件下進(jìn)行非破壞性的電學(xué)表征和測(cè)量平臺(tái)。主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)性能表征和測(cè)量，還可以在真空、氣氛環(huán)境下對(duì)材料進(jìn)行電學(xué)測(cè)量評(píng)估，是實(shí)驗(yàn)室測(cè)量薄膜材料電學(xué)材料常備工具，廣泛用于高校、科研、航天航空、軍工院所等領(lǐng)域。性能優(yōu)勢(shì)：1、滿足各種溫度的需求：可以滿足非常高的溫度或非常低的溫度的需求，因?yàn)榫A...

emmi微光顯微鏡是利用高增益相機(jī)/探測(cè)器來(lái)檢測(cè)由某些半導(dǎo)體器件缺陷/失效發(fā)出的微量光子的一種設(shè)備。當(dāng)對(duì)樣品施加適當(dāng)電壓時(shí)，其失效點(diǎn)會(huì)因加速載流子散射或電子-空穴對(duì)的復(fù)合而釋放特定波長(zhǎng)的光子。這些光子經(jīng)過收集和圖像處理后，就可以得到一張信號(hào)圖。撤去對(duì)樣品施加的電壓后，再收集一張背景圖，把信號(hào)圖和背景圖疊加之后，就可以定位發(fā)光點(diǎn)的位置，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)失效點(diǎn)的定位。對(duì)于故障分析而言，微光顯微鏡是一種相當(dāng)有用且效率高的分析工具。主要偵測(cè)IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHPRecom...

一、介紹：(1)波形發(fā)生器是一種數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)生器，在調(diào)試硬件時(shí)，常常需要加入一些信號(hào)，以觀察電路工作是否正常。用一般的信號(hào)發(fā)生器，不但笨重，而且只發(fā)一些簡(jiǎn)單的波形，不能滿足需要。(2)例如用戶要調(diào)試串口通信程序時(shí)，就要在計(jì)算機(jī)上寫好一段程序，再用線連接計(jì)算機(jī)和用戶實(shí)驗(yàn)板，如果不正常，不知道是通訊線有問題還是程序有問題。用E2000/L的波形發(fā)生器功能，就可以定義串口數(shù)據(jù)。通過邏輯探勾輸出，調(diào)試起來(lái)簡(jiǎn)單快捷。二、設(shè)計(jì)原理：1.要求:產(chǎn)生頻率在1HZ--20KHZ幅度0--5V的方...

探針臺(tái)溫控是一款溫度范圍-190℃-600℃的溫控探針臺(tái)，通過杠桿式支架，使用的是彎針探針。使用時(shí)還可對(duì)樣品氣氛進(jìn)行控制。這樣既可以保證，即使在極低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實(shí)驗(yàn)，又可以防止樣品發(fā)生氧化。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針更準(zhǔn)確，而且點(diǎn)針力度更大，和樣品的電接觸性更好。功能特點(diǎn)：1、可編程精密控溫。可獨(dú)立控制，也可從上位機(jī)軟件控制；2、探針需開蓋移動(dòng)，樣品臺(tái)面電接地；3、探針，分別導(dǎo)通冷熱臺(tái)外殼上的4個(gè)BNC接口；4、杠桿式探針支架，點(diǎn)針力度更大，電接觸性...

MPI探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。它主要的功能就是針對(duì)半導(dǎo)體元件進(jìn)行檢測(cè)，這里面說(shuō)的半導(dǎo)體元件指的是集成電路，分立器件，光電器件，傳感器等元件以及封裝的測(cè)試。通過探針臺(tái)配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓，電流，電阻和電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。可以適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查檢測(cè)等；可以保證這些半導(dǎo)體元件的質(zhì)量，縮短研發(fā)時(shí)間和器件...